Messung von Verschleiß und Reibung mittels Dynamischer und Reibungs-Kraftmikroskopie
Autor
J.-E. Schmutz, T. Meier, Hendrik Hölscher
Infos zum Autor
Autorenanschrift: J.-E. Schmutz*, T. Meier, Hendrik Hölscher Institut für Mikrostrukturtechnologie, Karlsruher Institut für Technologie (KIT) *Center for Nanotechnology (CeNTech), Westfälische Wilhelms-Universität Münster
